HOME >제품소개 > 제품리스트
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12-inch Cold-Chuck
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반도체 웨이퍼 다이싱 공정에서 픽업시 불량발생
→ -10℃이상 냉각하여 점착시트의 점착력 줄임으로 수율 개선
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8-inch Cold-Chuck
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Cold-Chuck Plate & Temp. Controller
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Ceramic CTE측정용 Col...
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Ceramic Board 열팽창계수 측정
대상 : Ceramic Board (Wafer type)
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Extreme Low Tempera...
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관성센서 온도 테스트용 극저온 챔버
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HTC
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Memory Test Chamber
(D2_SO-DIMM, UB-DIMM, R-DIMM, FB-DIMM)
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HTC-DI Chamber
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DIMM의 저온 고온환경검사 (hot & cold test)
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HTFC
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Memory Test Chamber
(D3_SO-DIMM, UB-DIMM, R-DIMM)
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HTFC-IR
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Memory Test Chamber
(D3_High Density R-DIMM)
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HTFC-P
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Memory Test Chamber
(D3_High Density R-DIMM)
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HTFC-S
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Memory Test Chamber
(D3_SO-DIMM, UB-DIMM, R-DIMM)
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L-DCAGT
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Dry & Cold Air Generator
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LC-HC050
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Open Chamber
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LC-HC100
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Open Chamber
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LC-HC200
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Open Chamber
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LCDV-N00100CTH
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Thermal chamber
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LCDV-N10025CCH-W
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Low Temperature Chamber
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LCDV-N10090CHT
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Thermal shock tester
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LCDV-N30125CTH-W
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Thermal chamber
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LCDV-P10090CCH-SND-...
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Memory Test Chamber (Chiller & Heater Type)
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LCDV-P10090CTH-ND-H...
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Memory Test Chamber
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LCDV-P10090CTH-NDHF...
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Memory Test Chamber
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LCDV-P10090CTH-SND-...
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Memory Test Chamber
(TEM & Heater Type)
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LCDV-P25090CTH-W
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High Temperature Chamber
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LCDV-P25090CTNIR-HC...
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Memory Test Chamber (NAND)
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LCDV-P50080PTO-HI
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CPU Cooler(Server용, Notebook용)
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LIV-1512CH
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Burn-in Test Chamber (NAND)
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M-PTC_Ver.1
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Memory Test Chamber (D2-D3_SO-DIMM)
*Computer 전원공급가능
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M-PTC_Ver.2
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Memory Test Chamber (D2,D3_UB-DIMM)
*컴퓨터 전원 소형 챔버
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Memory IC Test 장비
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DIMM의 고온, 저온 환경검사 (hot & cold test)
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Mini 항온 챔버
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Mini-Chamber
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P-PTC
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Memory Test Chamber
(D2,D3_R-DIMM)
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RTC
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[New]메모리 온도 특성검사 장비 : DRAM 온도 검사장비/ Hot & Cool 동시 가능
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열전반도체 내구성 검사장비
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열전반도체의 내구성을 검사하기 위한 장비
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핫 척(HOT CHUCK)
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제어 대상의 항온 유지 : 실리콘 웨이퍼 용/ 진공흡착 방식
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